MKY-DBC-352晶闸管少子寿命测试仪

适用范围及特点
用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。
数字显示测试结果，自动测试。
主要参数
少子寿命测量范围：0.1-99us
外形尺寸：440X440X150mm
整机重量：10kg

MKY-DBC-352晶闸管少子寿命测试仪

适用范围及特点
用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。
数字显示测试结果，自动测试。
主要参数
少子寿命测量范围：0.1-99us
外形尺寸：440X440X150mm
整机重量：10kg

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适用范围及特点
用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。
数字显示测试结果，自动测试。
主要参数
少子寿命测量范围：0.1-99us
外形尺寸：440X440X150mm
整机重量：10kg

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用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。
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主要参数
少子寿命测量范围：0.1-99us
外形尺寸：440X440X150mm
整机重量：10kg

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主要参数
少子寿命测量范围：0.1-99us
外形尺寸：440X440X150mm
整机重量：10kg

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用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。
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主要参数
少子寿命测量范围：0.1-99us
外形尺寸：440X440X150mm
整机重量：10kg

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适用范围及特点
用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。
数字显示测试结果，自动测试。
主要参数
少子寿命测量范围：0.1-99us
外形尺寸：440X440X150mm
整机重量：10kg